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更新時(shí)間：2023-08-31 
瀏覽次數(shù)：413ortec-online/GEM P型同軸高純鍺（HPGe）輻射探測(cè)器的特征是什么？
ORTEC GEM輻射探測(cè)器是一款P型同軸HPGe探測(cè)器，適用于~40 keV及以上典型能量范圍的γ能譜測(cè)量。
GEM系列探測(cè)器特征：
效率達(dá)150％，還可應(yīng)要求提高。
出色的能量分辨率和峰值對(duì)稱性。
SMART偏壓選件。
惡劣環(huán)境（-HE）選件。
低本底碳纖維端蓋選件。
外加前置放大器選件適用于超高計(jì)數(shù)率應(yīng)用。
廣泛的配置靈活性，PopTop、Streamline和機(jī)械冷卻選項(xiàng)。
可選附件：
集成低溫冷卻系統(tǒng)選件（-ICS、-ICS-E）
集成低溫冷卻系統(tǒng)（ICS）低溫恒溫器配備有低溫冷卻器，不受回溫循環(huán)的影響。與使用標(biāo)準(zhǔn)型低溫恒溫器探測(cè)器的典型三天損失不同，ICS可以立即重新冷卻，最大限度地減少因臨時(shí)回溫而損失的任何時(shí)間。ICS可配備內(nèi)部前置放大器（-ICS）或外部前置放大器（-ICS-E）。
集成低溫冷卻低本底系統(tǒng)（-ICS-LB）
低本底探測(cè)器配有內(nèi)置前置放大器、高純鋁端蓋、高純鋁窗、高純鋁內(nèi)杯，以及用于ICS集成低溫冷卻系統(tǒng)的低本底銅安裝座。較低本底的材料可在特定計(jì)數(shù)時(shí)間內(nèi)降低最小可探測(cè)活度（MDA），這為在低本底應(yīng)用中增加樣品通量提供了另一種方法。
SMART-1選件 (-SMP)
SMART-1選件用于監(jiān)控和報(bào)告重要的系統(tǒng)功能，還可保存授權(quán)碼并在稍后報(bào)告該碼。它包括高壓，因此所有儀器都不需要外部高壓電源。SMART-1采用堅(jiān)固的ABS模塑塑料外殼，并通過模塑應(yīng)變消除密封電纜牢牢地固定在探測(cè)器端蓋上。這可避免探測(cè)器因水分泄漏到高壓連接器中而受到嚴(yán)重?fù)p壞。SMART-1可以放置在任何方便使用的位置，不會(huì)干擾屏蔽體或其他硬件安裝。
超高計(jì)數(shù)率前置放大器選件（-PL）
超高計(jì)數(shù)率前置放大器（晶體管復(fù)位前置放大器）可在1 MeV下處理高達(dá)1,000,000個(gè)計(jì)數(shù)/秒的輸入計(jì)數(shù)率，并具有無反饋電阻的額外優(yōu)勢(shì)。
惡劣環(huán)境選件（-HE）
惡劣環(huán)境選件是一個(gè)堅(jiān)固的碳纖維端蓋，配有密封的電子設(shè)備外殼，并帶有可更換的干燥劑包，用以確保電子設(shè)備保持100％干燥并指示何時(shí)需要更換干燥劑包。直徑為76 mm或更大PopTop封裝設(shè)計(jì)中的GEM系列探測(cè)器可配備此選件。
遠(yuǎn)端前置放大器選件（-HJ）
此選件讓所有前置放大器和高壓接頭位于屏蔽之外，并將前置放大器和高壓濾波器從Ge晶體的“視線"移除。對(duì)于低本底應(yīng)用，此選件消除了可能增加本底的前置放大器或高壓濾波器組件。
低本底碳纖維端蓋選件（-RB、-LB-C和-XLB-C）
低本底碳纖維端蓋與Al、Mg和Cu一樣堅(jiān)固，產(chǎn)生的本底少，不被腐蝕，并且可以檢測(cè)低于10 keV的能量。這種較低的本底材料可在特定計(jì)數(shù)時(shí)間內(nèi)降低最小可探測(cè)活度（MDA），這為在低本底計(jì)數(shù)應(yīng)用中增加樣品通量提供了另一種方法。碳纖維的較低Z可提供低能量窗口，而不會(huì)產(chǎn)生在大多數(shù)合金中發(fā)現(xiàn)的額外本底。
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